用途场景

研发 实验室研发、新产品开发、技术研究
生产 生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控 质量检验、来料检测、成品测试
合规认证 计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训 教学实验、技能培训、实训演示
维修 设备维修、故障诊断、维护保养

规格参数

技术参数
项目F1N1
测头类型F1N1
工作原理磁感应电涡流
测量范围0~1500μm0~1500μm
分辨率高精度:0.01μm 中精度:0.1μm 低精度:1μm
示值误差零点校准 ±(3%H+1);两点校准 ±[(1~3%)H+1]
最小曲率半径mm凸1.5凹3
最小面积直径mmΦ7Φ5
基本临界厚度mm0.50.3
工作环境温度 0~40℃;湿度 20%~90%
电源二节7号碱性电池(1.5V)
外形尺寸112×70×23mm(主机)
重量约80g
标准配置主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池

测量原理

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可测量磁性金属基体(如铁、钴、镍)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

磁性法(F型测头):当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。

涡流法(N型测头):利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。

校准方法

本仪器提供两种测量中使用的校准方法:零点校准和两点校准;以及两种针对探头的校准方法:基本校准。

零点校准:在不同基体上进行测量时重新进行零点校准,当校准使用的基体与待测试件基体性质偏差较大时,测量值将会产生偏差。可使用以下两种方法之一进行零点校准:

方法1:a) 在基体上进行一次测量,屏幕显示<xxμm>;b) 在提起测头之后长按"校正"键,屏显<0.0um>,校准完成。

方法2:可短按"校正"进入校准界面,对基体进行测量,按"确认"键,然后跳过下一个界面"测量(1000um)"时,按"跳过"键校准完成。

两点校准:这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。

a) 可短按"校正"进入校准界面,对基体进行零点校准,屏幕显示<xxxum>,按"确认"确认。

b) 按提示测量(1000um)的标准片,屏幕显示<xxxum>,按"确认"键确认。或没有1000um的标准片时,找厚度接近的膜片代替,需要在仪器上设置膜片的厚度,操作方法如下:在提示测量(1000um)的标准片时,按"设置"键,进入设置校正值界面,按"∧""∨"键来调整膜片的厚度值,然后按"确认"键确认,返回到校正界面,这里测量(xxxum)就做相应的改变了。

保养和维修

  • 环境要求:严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。
  • 更换电池:当屏幕上的电池电量在开机时显示小于2格,就表示应该更换电池。
  • 仪器维修:出现故障时,请用户不要拆机自修。填妥保修卡后,请将仪器交我公司维修部门,执行保修条例。如果能将出现错误的情况简单描述一下,一同寄出,我们将会非常感谢您。

产品描述(显示屏标注)

  • 测量模式
  • 当前存放的文件
  • 时间显示
  • 电池电量
  • 测量单位
  • 测量值标准差
  • 菜单
  • 校正
  • 测量值平均值
  • 统计
  • 删除数据
  • 测量次数
  • 当前测量数据

符合标准:GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法;GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法;JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪;JJG 889-95《磁阻法测厚仪》;JJG 818-93《电涡流式测厚仪》。


本仪器是磁性、涡流一体的便携式涂层测厚仪,它能快速、无损伤地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域, 是材料保护重要的仪器。

●采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

●具有两种测量方式:连续测量方式和单次测量方式,具有三种测量模式:高精度测量模式可对多次测量取平均,并对可疑数据进行自动过滤,可确保测量值更加准确、稳定;快速测量模式可实现实时扫描功能。

●具有温度补偿功能:实时温度补偿技术可自动对环境温度及测头温度改变引起的测量误差进行补偿,使测量更准确。

●设有五个统计量:平均值( MEAN)、 最大值( MAX)、最小值( MIN )测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV )。

●可采用零点校准、单点校准或两点校准法对仪器进行校准并可用基本校准和温度系数校准法对测头的系统误差进行修正。

●具有存储功能:最多可存储500个测量值。

●具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存储区内的所有数据,以便进行新的测量。

●可设置限界:对限界外的测量值自动报警。

●具有电源电量指示功能,操作过程有蜂鸣声提示。

●说有三种关机方式:手动关机方式,超时自动关机方式以及低电量自动关机方式,并可设置超时自动关机等待时间。


❓ 常见问答 2 查看更多 →

问:JP252C和JP252有什么区别?

答:JP252C 与 JP252 采用相同的 F1/N1 双测头体系与 ISO 2178/ISO 2360、GB/T 4956/4957 标准体系,量程同为 0-1500μm、高精度模式分辨率 0.01μm,主要差异在外观与按键布局:JP252C 是磁性与涡流一体的便携式设计,主打快速无损测量,适合工程现场多点巡检。详细参数见产品详情页。

两款都带实时温度补偿、两点校准与 500 值存储、限界报警。测量能力一致,选哪款主要看操作习惯与预算。

问:JP252C在铝材阳极氧化膜测量中要注意什么?

答:铝基阳极氧化膜用 N1 电涡流探头测量,量程 0-1500μm。注意三点:①氧化膜与铝基体导电性差异小,务必用随机铝基体做零点校准;②经铬酸盐等化学转化处理的部位会干扰涡流,测点尽量选纯氧化膜区域;③曲率半径小于凸 1.5mm 的边角部位读数会偏高,应避开或取多点平均。

两点校准后示值误差可控制在 ±[(1~3%)H+1]μm;高精度模式下 20μm 以下的薄氧化膜也能稳定分辨。

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2026-09-26 06:58:54
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